深圳市唐领科技IOTE2022感想--如何支持国产RFID芯片验证测试

IOTE2022经过几次艰难的delay之后，终于于11月15日-17日在深圳国际会展中心17号馆成功举办。深圳市唐领科技有限公司作为 作为协会创始会员当然也不会错过此次盛会，唐领一如既往的展出了CISC传统的RAIN RFID测试仪、NFC测试仪及RAIN RFID Inline设备，也推出了用于快速检测读写设备的CISC新品Reader checker以最低的成本让读写器制造商了解其产品灵敏度，让系统集成商迅速找出问题所在。

本次展会还有一大特点就是国产RFID标签和读写器芯片厂商的新产品层出不穷，大大加快了RFID领域芯片国产化的步伐。跟随着这个步伐，唐领携CISC的产品也为RFID芯片设计厂商提供了有效而完整的芯片测试方案RAIN RFID Xplorer。

标签芯片测试方案

CISC的RAIN RFID Xplorer在芯片测试这块涵盖了灵敏度和协议层的测试。灵敏度测试可根据需求进行接触（无天线）及非接触（带天线）的测量方法，让芯片设计厂商更了解自己的产品在不同条件下的特性。RAIN RFID Xplorer独具特色的参数设置是更多芯片厂商真正所需要的，如调制、时序、指令等的设置，这些设置都是在验证芯片在不同条件下的性能特点，可以进一步完善芯片的设计，同时自定义指令及序列有助于调试特殊的协议规范标签芯片性能。

对于协议层面的符合规范测试，RAIN RFID Xplorer提供了两个选择，一个作为单点调试的Conformance软件，他可以分析每个标签指令或相应的内容、时序、功率、BLF及占空比等物理特性。

另一个是自动化G2V2规范测试软件涵盖了G2V2里规定的所有测试项目，生成测试报告，能迅速的让标签芯片厂商评估其产品与G2V2的符合度，如有不符合的项目可用conformance测试软件进行深入调试和研究。

对于标签芯片的性能及规范测试，RAIN RFID Xplorer可以称得上是业内最完整最紧凑的测试方案。

读写器芯片测试方案

同样是RAIN RFID Xplorer还可以进行读写器芯片的灵敏度及规范验证。作为读写器芯片灵敏度的稳定性是非常的重要，Xplorer可以用接触式的标签仿真模块来检测来自读写器芯片评估板的信号，同时通过Tx、BLF的变化观测灵敏度的变化，并可模拟天线的相位和阻抗变化来了解芯片灵敏度的匹配度。标签仿真模块还可以设置不同的配置，如接收Tari、RTcal，响应T1、BLF offset等，更大程度模拟不同的标签特点。

当然读写器芯片当然也少不了协议符合度的测试，同样遵循G2V2的需要RAIN RFID Xplorer设计了一个自动化的读写器协议符合度测试软件，自动对Link时序、RF包络和物理性能进行测试比对。获取pass、failed的信息后，可通过Sniffer分析软件对读写器协议及规范进行详细的参数分析，从而改善相关的设计问题。

无论RFID标签还是读写器其核心均在芯片，CISC在支持Impinj、NXP、ST等国际芯片大厂的芯片设计验证的同时，也希望为中国国产芯片的崛起添砖加瓦，让国产RFID芯片在测试和验证之路上走的更加顺畅。当然CISC近年产品也是推陈出新，紧跟潮流推出NFC无线充电方案、现场RFID分析工具等创新产品，让IOT领域应用眼前一亮。